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光碟片數: 單片裝(單面 DVD)
破解說明: 見光碟內的安裝說明
系統支援: 適用 64 位元的 Windows 7/8.1/10
軟體類型: 半導體元件核心量測
更新日期: 2020.11.03
軟體發行: Keysight Technologies
官方網站: https://www.keysight.com/en/pc-2400412/waferpro-express-on-wafer-measurement-program-software?cc=TW
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WaferPro Express 軟體能夠對電晶體和電路元件等半導體元件，執行自動晶圓級
量測，並可提供完整的驅動程式和測試常式，以支援各種儀器和晶圓探棒。其全新
的操作介面使得設定和執行複雜的晶圓級測試方案變得非常簡單。新的 Python 程
式設計環境還可支援強大的客製功能。

WaferPro Express 是我們與 Cascade Microtech 攜手合作的產物，也是晶圓級量
測解決方案（WMS）的核心軟體。WMS 產品可加快進行首次量測的速度，並提供精
確和可重複的裝置和元件特性分析。如欲瞭解更多資訊，請參見晶圓級量測解決方
案 Cascade Microtech。

WaferPro Express 的主要特性
擁有全套測試演算法和儀器驅動程式，可以縮短軟體學習時間，加快量測系統的設
定過程，讓您更快開始首次量測

現代化和直覺的操作介面方便您快速連接儀器，並確定測試計畫。為了進一步提高
效率，該軟體還與 Cascade Microtech Nucleus 和 WinCal XE 軟體相整合，以便
進行探量台控制和自動射頻校驗

與 Cascade Microtech 的最新控制軟體 Velox 2 進行了獨家整合。WaferPro 和
Velox 之間的全新 WaferSync 介面，可支援完整的晶圓映射同步功能，並能在測
試方案執行期間，自動監測射頻校驗

如需處理大量資料時，Data Display、Wafer Mapping Data Viewer 和 SQL 資料
庫等先進工具可以顯著提高生產率。此外，Python/PEL 程式設計環境讓您可以客
製測試演算法和分析量測資料

WaferPro Express 是先進低頻雜訊分析儀（A-LFNA）的正式軟體平台。先進低頻
雜訊分析儀專為進行精確且可重複的低頻雜訊量測而設計

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